《DFT可測試性設(shè)計工程實踐》

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●課程背景

◇測試是產(chǎn)品從研發(fā)走向生產(chǎn)的必經(jīng)階段,也是決定產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié),如何將測試工作開展的更全面、更仔細(xì)、更專業(yè)完善也是眾多電子通信企業(yè)所追求的目標(biāo)。

◇建立可測試性設(shè)計是開發(fā)軟硬件系統(tǒng)的關(guān)鍵，尤其是那些對工作可靠性要求高的系統(tǒng)。

◇若沒有可測試性設(shè)計，在產(chǎn)品正式使用之前就很難發(fā)現(xiàn)設(shè)計缺陷，而且工作中出現(xiàn)的故障也很難檢測和診斷。

◇采用可測試性設(shè)計可以增加系統(tǒng)的可測試性，提高產(chǎn)品質(zhì)量，并減少產(chǎn)品投放市場的時間及測試費用。

●課程收益

學(xué)完本課程后，學(xué)員可獲得：

▲深刻理解可測性設(shè)計(DFT)的基本思想和基本原理

▲熟悉可測性設(shè)計(DFT)的基本業(yè)務(wù)流程

▲全面掌握可測性設(shè)計(DFT)的設(shè)計方法

▲有效構(gòu)建可測性設(shè)計(DFT)的體系平臺和貨架技術(shù)

●課程大綱

1、可測性設(shè)計(DFT)概述

◇何謂可靠性？

◇可靠性管理與質(zhì)量管理

◇產(chǎn)品生命周期V模型

◇電子信息產(chǎn)品測試所面臨的問題

◇什么是可測性設(shè)計(DFT)

◇思考：如何深刻理解可測性設(shè)計(DFT)

◇可測性的物理特征表述

◇可測性設(shè)計(DFT)的效益分析

◇可測性設(shè)計(DFT)基本要素

◇IPD模式下的DFT體系結(jié)構(gòu)

◇可測性設(shè)計(DFT)基本過程

◇可測性設(shè)計(DFT)中常用術(shù)語及縮略語

2、可測性設(shè)計(DFT)需求

◇整機(jī)研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源

◇整機(jī)研發(fā)測試的可測性(DFT)需求

◇單板軟件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源

◇單板軟件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求

◇單板硬件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求來源

◇單板硬件研發(fā)測試的可測性(DFT)需求

◇單板生產(chǎn)測試的可測性(DFT)需求來源

◇單板生產(chǎn)測試的抽象模型

※思考：單板生產(chǎn)測試的目的是什么？

◇單板生產(chǎn)測試路線

◇單板生產(chǎn)工藝測試基本原理

◇單板生產(chǎn)功能測試基本原理

◇單板生產(chǎn)測試的可測性(DFT)需求

※※討論：本公司各產(chǎn)品適合的生產(chǎn)測試方案和路線是怎樣的？

◇JTAG在生產(chǎn)測試中的應(yīng)用

◇JTAG在生產(chǎn)測試中的可測性設(shè)計(DFT)需求

◇單板維修可測性設(shè)計(DFT)需求

※※思考：本公司生產(chǎn)維修有哪些診斷手段？

3、可測性設(shè)計(DFT)基本方法

◇輸入輸出通道設(shè)計——測試控制物理通道

◇輸入輸出通道設(shè)計——外部測試命令集

◇輸入輸出通道設(shè)計——測試控制管理

◇輸入輸出通道設(shè)計——測試信息存儲與輸出

◇輸入輸出通道設(shè)計——外部儀器輸入輸出接口

◇內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)源自動生成

◇內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——差錯數(shù)據(jù)源自動生成

◇內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——容限/極限數(shù)據(jù)源自動生成

◇內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計——故障數(shù)據(jù)源自動生成

◇能控性設(shè)計——測試數(shù)據(jù)源的設(shè)置與啟動

◇能觀性設(shè)計——系統(tǒng)配置狀態(tài)監(jiān)控

◇能觀性設(shè)計——系統(tǒng)業(yè)務(wù)狀態(tài)監(jiān)控

◇能觀性設(shè)計——單板運行狀態(tài)監(jiān)控

◇能觀性設(shè)計——系統(tǒng)資源狀態(tài)監(jiān)控

◇能觀性設(shè)計——系統(tǒng)其它狀態(tài)監(jiān)控

◇案例解讀

4、單板可測性設(shè)計(DFT)必須考慮的要素

◇機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計

◇自檢和自環(huán)設(shè)計

◇工裝夾具設(shè)計

◇測試點設(shè)計

◇芯片控制引腳設(shè)計

◇邊界掃描測試設(shè)計

◇EPLD/CPLD/FPGA設(shè)計

◇如何設(shè)計以減少測試點

5、可測性設(shè)計(DFT)工程實施

◇可測性設(shè)計(DFT)工程實施步驟

◇可測性設(shè)計(DFT)工程實施障礙

※交流與探討：如何構(gòu)建可測性設(shè)計(DFT)體系和貨架技術(shù)