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納蘭企業(yè)管理培訓(xùn)

[企業(yè)內(nèi)訓(xùn)]
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蘇州可測(cè)試性(DFT)培訓(xùn)

32 2017-06-15

DFT可測(cè)試性設(shè)計(jì)工程實(shí)踐》

蘇州納蘭企管咨詢TEL:400-6726-568

課程背景

◇測(cè)試是產(chǎn)品從研發(fā)走向生產(chǎn)的必經(jīng)階段,也是決定產(chǎn)品質(zhì)量的重要環(huán)節(jié),如何將測(cè)試工作開展的更全面、更仔細(xì)、更專業(yè)完善也是眾多電子通信企業(yè)所追求的目標(biāo)。

◇建立可測(cè)試性設(shè)計(jì)是開發(fā)軟硬件系統(tǒng)的關(guān)鍵,尤其是那些對(duì)工作可靠性要求高的系統(tǒng)。

◇若沒有可測(cè)試性設(shè)計(jì),在產(chǎn)品正式使用之前就很難發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)缺陷,而且工作中出現(xiàn)的故障也很難檢測(cè)和診斷。

◇采用可測(cè)試性設(shè)計(jì)可以增加系統(tǒng)的可測(cè)試性,提高產(chǎn)品質(zhì)量,并減少產(chǎn)品投放市場的時(shí)間及測(cè)試費(fèi)用。

課程收益

學(xué)完本課程后,學(xué)員可獲得:

▲深刻理解可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的基本思想和基本原理

▲熟悉可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的基本業(yè)務(wù)流程

▲全面掌握可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的設(shè)計(jì)方法

▲有效構(gòu)建可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的體系平臺(tái)和貨架技術(shù)

課程大綱

1、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)概述

◇何謂可靠性?

◇可靠性管理與質(zhì)量管理

◇產(chǎn)品生命周期V模型

◇電子信息產(chǎn)品測(cè)試所面臨的問題

◇什么是可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)

◇思考:如何深刻理解可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)

◇可測(cè)性的物理特征表述

◇可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)的效益分析

◇可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本要素

◇IPD模式下的DFT體系結(jié)構(gòu)

◇可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本過程

◇可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)中常用術(shù)語及縮略語

2、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求

◇整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源

◇整機(jī)研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求

◇單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源

◇單板軟件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求

◇單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源

◇單板硬件研發(fā)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求

◇單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求來源

◇單板生產(chǎn)測(cè)試的抽象模型

※思考:單板生產(chǎn)測(cè)試的目的是什么?

◇單板生產(chǎn)測(cè)試路線

◇單板生產(chǎn)工藝測(cè)試基本原理

◇單板生產(chǎn)功能測(cè)試基本原理

◇單板生產(chǎn)測(cè)試的可測(cè)性(DFT)需求

※※討論:本公司各產(chǎn)品適合的生產(chǎn)測(cè)試方案和路線是怎樣的?

◇JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的應(yīng)用

◇JTAG在生產(chǎn)測(cè)試中的可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求

◇單板維修可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)需求

※※思考:本公司生產(chǎn)維修有哪些診斷手段?

3、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)基本方法

◇輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制物理通道

◇輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部測(cè)試命令集

◇輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試控制管理

◇輸入輸出通道設(shè)計(jì)——測(cè)試信息存儲(chǔ)與輸出

◇輸入輸出通道設(shè)計(jì)——外部儀器輸入輸出接口

◇內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——業(yè)務(wù)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成

◇內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——差錯(cuò)數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成

◇內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——容限/極限數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成

◇內(nèi)置數(shù)據(jù)源設(shè)計(jì)——故障數(shù)據(jù)源自動(dòng)生成

◇能控性設(shè)計(jì)——測(cè)試數(shù)據(jù)源的設(shè)置與啟動(dòng)

◇能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)配置狀態(tài)監(jiān)控

◇能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)業(yè)務(wù)狀態(tài)監(jiān)控

◇能觀性設(shè)計(jì)——單板運(yùn)行狀態(tài)監(jiān)控

◇能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)資源狀態(tài)監(jiān)控

◇能觀性設(shè)計(jì)——系統(tǒng)其它狀態(tài)監(jiān)控

◇案例解讀

4、單板可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)必須考慮的要素

◇機(jī)械結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)

◇自檢和自環(huán)設(shè)計(jì)

◇工裝夾具設(shè)計(jì)

◇測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì)

◇芯片控制引腳設(shè)計(jì)

◇邊界掃描測(cè)試設(shè)計(jì)

◇EPLD/CPLD/FPGA設(shè)計(jì)

◇如何設(shè)計(jì)以減少測(cè)試點(diǎn)

5、可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施

◇可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施步驟

◇可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)工程實(shí)施障礙

※交流與探討:如何構(gòu)建可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)體系和貨架技術(shù)

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